Состоялась тематическая встреча, посвященнуя обсуждению вопроса о внесении изменений в положение пункта 2 Требований к документам заявки на выдачу патента на промышленный образец, относящееся к требованию единства промышленного образца.
Представители ФИПС пассказали про особенности экспертизы промышленных образцов. Большой интерес слушателей вызвал подход экспертов к оценке единства в наборах, представляющих один промышленный образец. В результате активной дискуссии были подняты вопросы к подходам экспертизы, ее глубине. Кто-то был на стороне глубокой проверки объектов, а кто-то, наоборот, голосовал за отмену этапа экспертизы по существу.
.jpg)
