Круглый стол «Современные возможности патентного поиска»
Круглый стол "Проблемы судебной экспертизы промышленных образцов"
Передвижной Семинар «Услуги и инициативы ВОИС»
«Зарубежное патентование с использованием процедуры РСТ: возможности и проблемы»
Круглый стол "Методология подготовки патентной заявки"
Фото с форума IPforFuture
