Фотоальбомы

Круглый стол «Современные возможности патентного поиска»

Круглый стол «Проблемы судебной экспертизы промышленных образцов»

Передвижной Семинар «Услуги и инициативы ВОИС»

«Зарубежное патентование с использованием процедуры РСТ: возможности и проблемы»

Круглый стол «Методология подготовки патентной заявки»

Фото с форума IPforFuture